分時檢測—分時頻閃技術

檢測速度更快,設備空間更小
  • 搭配超高速回應控制器,支持1-4種光源同時成像。
  • 高靈敏度,最高可回應50kHz的觸發頻率,觸發延時<1us。
  • 簡化集成應用系統結構,實現精准定位。
盤古系統-分時頻閃系列
盤古系統-分時頻閃系列
盤古系統-分時頻閃系列

“盤古”分時成像技術

更精準、更快速、更可靠
盤古系統-分時頻閃系列

相機介紹

盤古系統-分時頻閃系列

型號:PL8KCL-50KX

基本參數
  • 8320*16像素, 采用TDI技術 (4lines/lamp)
  • 5um*5um像元大小 (3)支持2燈、3燈、4燈分時頻閃 (最多支持4路輸出)
  • 2燈模式下行頻 : 50kHz每通道 / 3燈模式下行頻 : 33kHz每通道 / 4燈模式下行頻 : 25kHz每通道
產品規格
  • 數據接口 : Camera Link Full(需配采集卡使用)
  • 鏡頭接口 : M72075mm
  • 電源規格 : 12V±20% 1.6A

光源介紹(推薦) 交叉線形光源HRLNC系列

盤古系統-分時頻閃系列

型號:HRLNC-300W-FN (推薦照明視野範圍<150mm)

運用獨特的光學設計,實現光源出光口光路兩側交叉照明。 可以突顯平行於產品運動方向的豎劃痕。

應用領域
  • 透明薄膜劃痕檢測
  • 玻璃板表面劃痕檢測
盤古系統-分時頻閃系列
普通線光檢“橫劃傷”
盤古系統-分時頻閃系列
普通線光檢“豎劃傷”
盤古系統-分時頻閃系列
交叉線光檢“豎劃傷”

交叉線光可檢“豎劃傷”類缺陷,配合普通線光檢“橫劃傷”類缺陷(推薦使用分時頻閃),可檢測蓋板、薄膜、金屬面等產品的劃傷與條紋類缺陷。

光源介紹(推薦) 超高亮線形光源 HRLNH系列

盤古系統-分時頻閃系列

型號:HRLNH-300W-FN(推薦照明視野範圍<200mm)

光源表面照度可達300萬lx, 可選工作距離150-300mm,應對多工位集成應用

應用領域
  • 玻璃蓋板外觀檢測
  • 印刷品字符檢測
  • 車底部件缺陷檢測

更多高速大幅面檢測應用待挖掘中...

盤古系統-分時頻閃系列
盤古系統-分時頻閃系列

光源介紹(推薦) 平行同軸線形光源 HRCOLNP系列

盤古系統-分時頻閃系列

型號:HRLNH-300W-FN(推薦照明視野範圍<200mm)

光源表面照度可達300萬lx, 可選工作距離150-300mm,應對多工位集成應用

應用領域
  • 玻璃蓋板外觀檢測
  • 印刷品字符檢測
  • 車底部件缺陷檢測

更多高速大幅面檢測應用待挖掘中...

盤古系統-分時頻閃系列
盤古系統-分時頻閃系列

光源介紹(推薦) 均勻型線形光源 HRLN3-DF系列

盤古系統-分時頻閃系列

型號:HRLN3-300W-FN-DF(推薦照明視野範圍<200mm)

應用領域
  • 薄膜表面缺陷检测
  • 五金件尺寸检测
  • 玻璃盖板凹凸点、异色检测等

线性高均匀照明、自然冷却、可作背光式照明
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均匀型曲线
盤古系統-分時頻閃系列
盤古系統-分時頻閃系列

恒流控制器 PHC/PHCLseries

  • 單通道5A輸出,總功率600W
  • 支持網口 / 串口通訊
  • 頻閃發光時間可調節範圍:0-999.999ms,0-999檔亮度可調節
  • 支持單通道100kHz回應頻率

高速恒流控制器 PHCseries

盤古系統-分時頻閃系列

型號:PHC-6005A-4-LSE

特點
  • 恒流控制,控制精度<1%
  • 回應快,回應時間<1us,支援高速分時頻閃應用
  • 單路支持5A輸出,4通道輸出,總功率600W
  • 通道數可根據需求延展
  • 支持LS-232/EIA-485和網口通訊
  • 頻閃發光時間可調節範圍0-999.999ms,0-999檔亮度可調節
應用領域
  • 產品外觀缺陷檢測
  • 產品定位檢測
  • 產品輪廓檢測等

高速恒流邏輯控制器 HRPHLseries

盤古系統-分時頻閃系列

型號:HRPHCL-6005A-4-LSE

特點
  • 自帶邏輯輸出功能(三種),邏輯時序可根據專案情況進行程式設計,滿足不同應用場景
  • 可配合分時頻閃系統,控制光源高速切換,與相機高速逐行掃描
  • 恒流控制,控制精度<1%
  • 回應快,回應時間<1us,支援高速分時頻閃應用
  • 單路支持5A輸出,4通道輸出,總功率600W
  • 通道數可根據需求延展
  • 支持LS-232/EIA-485和網口通訊
  • 頻閃發光時間可調節範圍0-999.999ms,0-999檔亮度可調節
應用領域
  • 產品外觀缺陷檢測
  • 產品定位檢測
  • 產品輪廓檢測等

應用—“玻璃蓋板外觀缺陷檢測”

交叉線光可檢“豎劃傷”類缺陷,暗場高亮線光檢“橫劃傷”類缺陷,明場線光檢“凹凸點、髒汙”等外觀缺陷,底部線光做“尺寸測量”等檢測。

盤古系統-分時頻閃系列
2D蓋板外觀缺陷及定位檢測
盤古系統-分時頻閃系列
盤古系統-分時頻閃系列
盤古系統-分時頻閃系列
盤古系統-分時頻閃系列
盤古系統-分時頻閃系列
盤古系統-分時頻閃系列

應用二“鋰電池極片缺陷檢測”

盤古系統-分時頻閃系列
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