INTERLACED STROBE

盤古系統-分時頻閃系列

輝榮創研合作開發

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系統特點

可支持四種光源同時檢測,降低系統成本

採用TDI技術(4lines/lamp),高速成像質量好

時序控制直接由相機完成,控制精準度高

相機即時呈現拼接好的圖像,取像效率高

​觸發頻率最高可達50kHz,觸發延時<1us

應用領域

玻璃蓋板缺陷檢測

鋰電池外觀瑕疵檢測

印刷品字符與外觀檢測

晶圓與太陽能電池板檢測

​其他工業檢測

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