INTERLACED STROBE

盤古系統-分時頻閃系列

輝榮創研合作開發

系統特點

可支持四種光源同時檢測,降低系統成本

採用TDI技術(4lines/lamp),高速成像質量好

時序控制直接由相機完成,控制精準度高

相機即時呈現拼接好的圖像,取像效率高

​觸發頻率最高可達50kHz,觸發延時<1us

應用領域

玻璃蓋板缺陷檢測

鋰電池外觀瑕疵檢測

印刷品字符與外觀檢測

晶圓與太陽能電池板檢測

​其他工業檢測

機器視覺的最佳夥伴 | 輝榮創研

沃德普|科技之光

科技之光

CoolensLogo-Q.png

遠心之王

長步道|工業鏡頭巨匠

工業鏡頭巨匠

iTekLogo-Q.png

線掃/大面陣相機

RZImageLogo-Q.png

智慧HDMI相機

LontryLogo-Q.png

中繼鏡頭

TEL: 03-6573830

FAX: 03-5586476

新竹縣竹北市科大一路282號